Технология эксплуатационных измерений систем SDH и транспортной сети ATM (стр. 1 из 2)
ТЕХНОЛОГИЯ ЭКСПЛУАТАЦИОННЫХ ИЗМЕРЕНИЙ СИСТЕМ SDH и ТРАНСПОРТНОЙ СЕТИ ATM
1. Концепция SDH
Измерительная концепция SDH — трехмерная.
В состав сети SDH входят следующие устройства: мультиплексоры ввода/вывода (МВВ), мультиплексоры, регенераторы и коммутаторы (SDXC). В качестве первой "координатной оси" классификации можно предложить разделить все измерения на следующие группы: измерения на МВВ; измерения параметров мультиплексоров; измерения параметров регенераторов; измерения параметров коммутаторов; анализ сети в целом.
В качестве варианта второй "координатной оси" можно было бы предложить уже рассмотренный метод разделения всех измерений по уровням ЭМВОС. Однако такое разделение не очень удобно для рассмотрения сетей SDH, поскольку мало учитывает специфику этой технологии. Гораздо эффективнее положить в основу классификации структуру типового тракта, представленную на рис. 1. Структура типового тракта системы передачи SDH легла в основу этой технологии и нашла отражение во всех элементах и протоколах взаимодействия устройств.
В результате выделяются четыре уровня анализа системы SDH: секционный, маршрута высокого уровня, маршрута низкого уровня и уровень нагрузки. Для каждого уровня могут быть выделены определенные параметры измерений. Отдельно должны рассматриваться измерения тракта (маршрута) в целом, а также измерения параметров сети, связанные с анализом всех трактов (уровень сети).
Третьей "координатной осью" можно положить систему методов организации измерений, отражающих цели организации измерений. Необходимость введения этой группы связана с усложнением технологии SDH, и в первую очередь тем, что технология SDH имеет значительный сетевой уровень и должна рассматриваться как централизованно управляемая сеть. Эта особенность уже была учтена при рассмотрении второй "координатной оси" классификации: здесь было указано разделение измерений по участкам тракта, на всем тракте и на сети в целом. Однако усложнение технологии приводит дополнительно к необходимости разделения всех измерений по методам их организации.
Для этого все измерения разделим на три наиболее важных группы: функциональные тесты, измерения стрессового тестирования и логическое тестирование. Из перечисленных групп первые две встречались при описании технологии измерений PDH без явного выделения, третья группа появляется в полной мере только в технологии систем передачи SDH, где имеет место несколько протоколов встроенной диагностики и управления, требующих при эксплуатации включать в измерения элементы анализа протоколов.
На основе перечисленных выше "координатных осей" построим классификацию измерений в системе SDH (рис. 2). Для этого будем использовать трехмерную измерительную концепцию.
В результате применения этой концепции все группы измерений в системах SDH можно классифицировать в соответствии в тремя координатами Х Y Z, где:
Х — номер в классификации по компонентам;
Y — номер в классификации по уровням тракта;
Z — номер по типу метода.
Таблица 1 — Группы измерений в плоскости X-Y
| Класс группы по компонентам | 1. Секционный уровень | 2. Уровень маршрута низкого уровня | 3. Уровень маршрута высокого уровня | 4. Уровень нагрузки | 5. Уровень маршрута | 6. Уровень сети |
| 1. Анализ мультиплексоров МВВ | 1.1.Z | 1.2.Z | 1.3.Z | 1.4.Z | 1.5.Z | |
| 2. Анализ мультиплексоров | 2.1.Z | |||||
| 3. Анализ регенераторов | 3.1.Z | |||||
| 4. Анализ коммутаторов | 4.1.Z | 4.2.Z | 4.3.Z | 4.5.Z | ||
| 5. Анализ сети в целом | 5.1.Z | 5.2.Z | 5.3.Z | 5.4.Z | 5.5.Z | 5.6.Z |
Таблица 2 — Группы измерений в плоскости Z-Y
| Группы по методам | 1. Секционный уровень | 2. Уровень маршрута низкого уровня | 3. Уровень маршрута высокого уровня | 4. Уровень нагрузки | 5. Уровень маршрута | 6. Уровень сети |
| 1. Функциональные тесты | Х.1.1 | Х.2.1 | Х.3.1 | Х.4.1 | Х.5.1 | Х.6.1 |
| 2. Стрессовое тестирование | Х.1.2 | Х.2.2 | Х.3.2 | Х.4.2 | Х.5.2 | Х.6.2 |
| 3. Логическое тестирование | Х.1.3 | Х.2.3 | Х.3.3 | Х.4.3 | Х.5.3 | Х.6.3 |
Таблица 3 — Группы измерений в плоскости X-Z
| Группы по методам | 1. Анализ мультиплексоров МВВ | 2. Анализ мультиплексоров | 3. Анализ регенераторов | 4. Анализ коммутаторов | 5. Анализ сети в целом |
| 1. Функциональные тесты | 1.Y.1 | 2.Y.1 | 3.Y.1 | 4.Y.1 | 5.Y.1 |
| 2. Стрессовое тестирование | 1.Y.2 | 2.Y.2 | 3.Y.2 | 4.Y.2 | 5.Y.2 |
| 3. Логическое тестирование | 5.Y.3 |
Таблица 4 — Группы измерений в системе SDH
| Номер | Номер в классификации | Описание группы |
| 1 | 2 | 3 |
| Анализ мультиплексоров | ||
| 1 | 1.1.1 | Функциональные тесты мультиплексоров МВВ секционного уровня |
| 2 | 1.1.2 | Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ секционного уровня |
| 3 | 1.2.1 | Функциональные тесты мультиплексоров МВВ маршрута низкого уровня |
| 4 | 1.2.2 | Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ маршрута низкого уровня |
| 5 | 1.3.1 | Функциональные тесты мультиплексоров МВВ маршрута высокого уровня |
| 6 | 1.3.2 | Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ маршрута высокого уровня |
| 7 | 1.4.1 | Функциональные тесты мультиплексоров МВВ уровня нагрузки |
| 8 | 1.4.2 | Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ уровня нагрузки |
| 9 | 1.5.1 | Функциональные тесты мультиплексоров МВВ уровня маршрута |
| 10 | 1.5.2 | Стрессовое тестирование мультиплексоров МВВ уровня маршрута |
| Анализ мультиплексоров | ||
| 11 | 2.1.1 | Функциональные тесты мультиплексоров секционного уровня |
| 12 | 2.1.2 | Стрессовое тестирование мультиплексоров секционного уровня |
| Анализ регенераторов | ||
| 13 | 3.1.1 | Функциональные тесты регенераторов секционного уровня |
| 14 | 3.1.2 | Стрессовое тестирование регенераторов секционного уровня |
| Анализ коммутаторов | ||
| 15 | 4.1.1 | Функциональные тесты коммутаторов секционного уровня |
| 16 | 4.1.2 | Стрессовое тестирование коммутаторов секционного уровня |
| 17 | 4.2.1 | Функциональные тесты коммутаторов маршрута низкого уровня |
| 18 | 4.2.2 | Стрессовое тестирование коммутаторов маршрута низкого уровня |
| 19 | 4.3.1 | Функциональные тесты коммутаторов маршрута высокого уровня |
| 20 | 4.3.2 | Стрессовое тестирование коммутаторов маршрута высокого уровня |
| 21 | 4.5.1 | Функциональные тесты коммутаторов уровня маршрута |
| 22 | 4.5.2 | Стрессовое тестирование коммутаторов уровня маршрута |
| Анализ сети в целом | ||
| 23 | 5.1.1 | Функциональные тесты процессов сети секционного уровня |
| 24 | 5.1.2 | Стрессовое тестирование процессов сети секционного уровня |
| 25 | 5.1.3 | Логическое тестирование сети секционного уровня |
| 26 | 5.2.1 | Функциональные тесты процессов сети маршрута низкого уровня |
| 27 | 5.2.2 | Стрессовое тестирование процессов сети маршрута низкого уровня |
| 28 | 5.2.3 | Логическое тестирование сети маршрута низкого уровня |
| 29 | 5.3.1 | Функциональные тесты процессов сети маршрута высокого уровня |
| 30 | 5.3.2 | Стрессовое тестирование процессов сети маршрута высокого уровня |
| 31 | 5.3.3 | Логическое тестирование сети маршрута высокого уровня |
| 32 | 5.4.1 | Функциональные тесты процессов сети уровня нагрузки |
| 33 | 5.4.2 | Стрессовое тестирование процессов сети уровня нагрузки |
| 34 | 5.5.1 | Функциональные тесты процессов сети уровня тракта |
| 35 | 5.5.2 | Стрессовое тестирование процессов сети уровня тракта |
| 36 | 5.5.3 | Логическое тестирование сети уровня тракта |
| 37 | 5.6.1 | Функциональные тесты процессов сети |
| 38 | 5.6.2 | Стрессовое тестирование процессов сети |
| 39 | 5.6.3 | Логическое тестирование сети |
2. Измерительная концепция для ATM
Технология ATM является достаточно молодой, поэтому в настоящее время значительного опыта эксплуатации сетей ATM нет и, как следствие, нет эксплуатационного измерительного оборудования ATM.
В отличие от технологии SDH, в составе сети ATM присутствуют лишь два типа устройств — коммутаторы ATM и устройства доступа. В результате одна из основ измерительной концепции (ИК) SDH — разделение измерений по компонентам сети — оказывается неэффективной для сети ATM. В то же время сеть ATM характеризуется большим количеством логических и физических интерфейсов: UNI, PNNI, DXI, B-ICI и т.д., причем в зависимости от типа логического интерфейса различаются процедуры обмена данными, протоколы и т.д., так что измерения вполне можно разделить на группы по соответствующим интерфейсам.
Второй "осью" ИК для ATM естественно становится тип трафика, поскольку требования, эксплуатационные нормы и методы измерений для разных типов трафика могут значительно отличаться.
Структура протокола ATM имеет также свою специфику, так что можно использовать ее в качестве третьей "оси" классификации, причем разделять все измерения в соответствии со структурой протокола ATM на уровни: физический, ATM и AAL и подуровни SAR и CS (возможно, эффективным окажется и более мелкое деление, например, на подуровни CS - SSCS и CPCS).