Курсовая работа по курсу: “Технологические процессы микроэлектроники”
На тему: ”Усилитель промежуточной частоты”
Выполнил ст. гр. 952
Проверил:
Анализ технического задания. 5
Заключение…………………………………………………………………………………………….16
Номиналы
R1, R10 – Резистор 12.0 kОМ 2шт; C1, C4 – Конденсатор 0.03 мкФ 2шт
R2 – Резистор 7.5 kОМ 1шт; С2, С5 – Конденсатор 6800 рФ 2шт
R3 – Резистор 5.0 kОМ 1шт; С3, С6 – Конденсатор 1500 рФ 2шт
R4, R7 – Резистор 15.0 kОМ 2шт;
R5 – Резистор 2.0 kОМ 1шт; VT1, VT2 – Транзистор КТ324В 2шт
R6 – Резистор 510 ОМ 1шт; (СБО.336.031 ТУ)
R8 – Резистор 0.34 kОМ 1шт;
R9 – Резистор 2.8 kОМ 1шт; ТР1 – Трансформатор ВЧ. 1шт
Плату следует изготовить методом фотополитографии.
Эксплуатационные требования: Тр = -150 +400С, tэ = 1000 ч., корпус, серия К151,159.
Постоянной тенденцией в радиоэлектронике является уменьшение габаритов и масс аппаратуры, повышение ее надежности. До появления интегральных микросхем этот процесс протекал в направлении миниатюризации отдельных элементов. Следующим шагом в миниатюризации было создание техники интегральных микросхем. Этот этап принципиально отличался от предыдущих тем, что в нем аппаратура собирается не из отдельных элементов или модулей, а из функциональных схем, образованных в едином технологическом процессе производства. Основными разновидностями технологии микросхем являются: пленочная, полупроводниковая и смешанная.
В пленочной технологии интегральная микросхема образуется нанесением на диэлектрическую подложку в определенной последовательности пленок из соответствующих материалов. Изготовленные таким образом микросхемы называются пленочными интегральными микросхемами (ПИМС). Разновидностью ПИМС являются гибридные интегральные микросхемы (ГИМС), у которых часть элементов, имеющих самостоятельное конструктивное оформление, вносится в виде навесных деталей.
Чрезвычайным важными характеристиками микросхем является степень интеграции и плотность упаковки. Степень интеграции представляет показатель сложности микросхемы и характеризуется числом содержащихся в ней элементов и компонентов. Плотностью упаковки называется отношение числа элементов и компонентов микросхемы к ее объему.
В данной курсовой работе необходимо разработать топологический чертеж усилителя промежуточной частоты. Топологическим называется такой чертеж интегральной микросхемы, в котором указана форма, местоположение и коммутативная связь элементов на подложке. В разработку топологии микросхемы входит: расчет геометрии каждого пленочного элемента и допусков на его размеры, выбор материала для них; определение оптимальных условий расположения пленочных и навесных элементов (при этом должны учитываться рассеиваемые мощности элементов, возможные паразитные связи между ними и их влияние на электрические параметры микросхемы); расчет размеров и выбор материала подложки, определение последовательности и выбор технологии напыления пленок.
Плату данного устройства необходимо изготовить фотолитографическим методом, т.е. нужные конфигурации пленок получают в процессе травления. Данная плата должна стабильно работать диапазоне температур от –15 до +400С.
В гибридных интегральных микросхемах широко применяются тонкопленочные резисторы. Сопоставляя физические свойства пленок с техническими требованиями к параметрам резистора, выбирают подходящий материал. При этом руководствуются следующими соображениями: необходимо, чтобы резистор занимал возможно меньшую площадь, а развиваемая в нем температура не должна нарушать стабильность параметров, ускорять процессы старения, выводить величину сопротивления за рамки допуска. По возможности стараются применить более толстые пленки, т.к. у очень тонких ухудшается стабильность сопротивления.
Из сказанных выше соображений выбираем сплав РС-3710, у которого имеются следующие характеристики: диапазон сопротивлений 10…20000 Ом, Удельное сопротивление 100…2000 Ом/, Удельная мощность 20 мВт/мм2, ТКС Mar = 3.5*10-4, dar = 1.5*10-4, коэффициент старения MКСТ = 2*10-6 ч-1, dКСТ = 0.1*10-6.
Так же имеются конструкционные и технологические ограничения: минимальная длинна резистора l0 = 0.1 мм, минимальная ширина резистора b0 = 0.05 мм, минимальная длинна контактного перехода lк = 0.1 мм, минимальное расстояние между краями перекрывающих друг друга пленочных элементов h = 0.05 мм.
Необходимые для расчета номиналы берем из исходных данных стр. 3, допустимое относительное отклонение сопротивления от номинального значения для всех резисторов составляет
.Для дальнейшего расчета мощности можно воспользоваться следующей формулой:
(1)а для расчета тока в цепи воспользуемся законом Ома:
(2).Определим ток в цепи резисторов R9 и R10, для чего подставим в формулу (2) соответствующие данные:
Далее определим мощность резисторов R9 и R10 в отдельности, для этого воспользуемся формулой (1):
Для резистора R9:
мВт.Для резистора R10:
мВт.Аналогично и для остальных резисторов:
Ток в цепи R7 и R8:
Мощность:
Для резистора R7:
мВт.Для резистора R8:
мВт.При помощи уравнений Кирхофа находим остальные токи:
Ток в цепи R1 и R2:
А.Мощность:
Для резистора R1:
мВт.Для резистора R2:
мВт.Ток в цепи R4
А.Мощность:
Для резистора R4:
мВт.Ток в цепи R3
А.Мощность:
Для резистора R3:
мВт.Ток в цепи R5
А.Мощность:
Для резистора R5:
мВт.Дальнейший расчет резисторов будем проводить в соответствии с [ ].
R1 и R10 = 12 kОм.
Зададимся коэффициентом влияния a = 0.03 и вычислим коэффициенты влияния:
; ; ; .Определим среднее значение и половины полей рассеяния относительной погрешности сопротивления, вызванной изменением температуры по следующим формулам:
; (3).где
- среднее значение температурного коэффициента сопротивления резистивной пленки. , - верхняя и нижняя предельные температуры окружающей среды. ; (4). ; (5).